SZT-I 平行四刀法 电容器薄膜方块电阻测试仪
一 、功能与结构特征概述
SZT-I型平行四刀法方阻测试台
基本功能：SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形测试台，有四个平行刀型测试电极，配以四探针仪器，用以测试柔性半导体薄膜或金属涂层薄膜方阻。
基本组成：成套测试台有四个平行刀型测试电极、测试台架、仪器连接线缆等部件组成。
配套与兼容：本测试台兼容本公司suo有四探针仪器，如下表主要型号，也可兼容其他大部分厂家四探针仪器。
ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形测试台适用产品部分型号及名称列表
序号 | 型号 | 名称 | 备注 |
1 | ST2558A | 多功能数字式方阻测试仪 | 柔性薄膜方阻测试zhuan用 |
2 | ST2558B | 多功能数字式方阻测试仪 | 柔性薄膜方阻测试zhuan用 |
3 | ST2258A | 多功能数字式方阻测试仪 | 柔性薄膜方阻测试zhuan用 |
4 | ST2258B | 多功能数字式方阻测试仪 | 柔性薄膜方阻测试zhuan用 |
5 | ST2253 | 数字式四探针测试仪 | 柔性薄膜方阻测试zhuan用 |
二、主要技术参数及说明
1柔性薄膜方阻测试zhuan用
2可测尺寸宽5～100mm,电压刀距100mm，电流刀距130mm。
3磷铜探刀，接触良好可靠
4 探刀为可快捷拆换型，方便生产线频繁使用
5 本公司可为顾客长期代购探针配件，价格优惠，服务周到
三、使用方式，请参照各配套测试台使用方式。
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