LP-701型四探针探头
LP-701型四探针探头(长把手设计)是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格：
1 | te制之长把手设计手握式探笔，把手长度14cm |
2 | 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 |
3 | 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 |
4 | 探头使用寿命长 |
5 | 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
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