LT-3型单晶少子寿命测试仪

LT-3型单晶少子寿命测试仪

产品型号:LT-3

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产品详情

LT-3型单晶少子寿命测试仪

品名

LT-3型单晶少子寿命测试仪

特点/规格

*.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
  *.测试单晶电阻率范围： >0.3Ω.cm；
  *.可测单晶少子寿命范围： 1μS-10000μS；
  *.配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；
  余辉<1 μS；闪光频率为：20-30次／秒；
  *.前置放大器：放大倍数约25；
  *.测量方式：采用对标准曲线读数方式；

 


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