ST-20型方块电阻测试仪
ST-20掌上型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特点：
1 | 采用九十年代推出的大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定 |
2 | 低功耗 |
3 | 采用单个电池供电，带电池欠压指示 |
4 | 仪器体积仅为：130mmX65mm X23mm |
5 | te制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 |
6 | 探头带抗静电模块 |
◆ 技术指标：
测量范围 | 基本量程：方块电阻10.0-199.9(Ω/口) |
测量不确定度 | ≤5% |
探针规格 | 探针间距：3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ |
恒流源 | 测量过程误差：≤±0.8% |
电源 | 9V叠层电池1节 |
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