DVM5000 HD 具有以下特点：
*1920×1080高动态解析度彩色实时画面
*多种镜头可选：0-50X,20-160，50-400,35-7000
*360度连续旋转观察
*编码技术，自动识别图像获取条件
*高清晰图片记录及电影录制
*2D自动测量、的3D模型建立
*实时二维、三维图像活图拼接功能，3D精准剖面测量
*BGA观察功能
*电动精密调焦
*电脑软件一体化设计
*LED照明，使用寿命可达30000小时

The Leica DVM5000 is a highly integrated digital microscope system that features outstanding performance capacity and speed. Within a very short time, the Leica DVM5000 provides the desired results – even complex 3D models are available in mere seconds.

For quality control, usually a sample is brought to the microscope for inspection and analysis. However, some products can­not be transported and do not allow a sample to be taken for microscopic analysis; only nondestructive inspection is possible. The Leica DVM5000 is specifically designed for such situations. Here, you can bring the microscope to the sample.

徕卡DVM5000 HD 显微镜系统(超高倍显微镜)

Leica DVM5000 HD是一款高亮度LED照明的多功能3D数码显微镜。Leica DVM5000 HD 可快速采集2D和3D图像的数码显微镜。并有完善且易于使用的软件工具对2D和3D的图像进行分析和记录样品。设备主体小巧便携，设有一个大型21.5寸全高清屏幕，可显示高对比度相机图像。完整的硬件控制设备整合到了DVM5000 HD数字显微镜的设备主体中，其中包含了电机变焦驱动器和一个强大的LED光源。DVM5000 HD可与Leica显微镜的VZ变焦镜头相结合,包含了放大倍率范围从35X到2500x的VZ700 C。 特点： ♦高性能LED照明 配备的LED照明提供高强度的光源，5700K的光源使色彩还原接近自然日光，并无需预热。在高放大倍率且较大的样本，同样可以获得的分析，在拼接3D模型时可生成高达10000 x10000像素的优质图片 。配备的控制器是Leica高精密度的变焦驱动器可提供的3D曲面数据，这也取决于选择的变焦镜头解析能力。  ♦用户可方便的预览优化图像 预览图像可使用不同的设置，可快捷的为每一个不同情况下成的像找到优异设置。预览优化可选HDR(高动态范围)，防光晕(亮点抑制)和3D曲面渲染。  ♦大型21.5“全高清屏幕 在生动的高对比度的高清屏幕上可显示您的数码显微镜图像上的更多细节。大屏幕可查看一张完整的2D和3D图像，无需用户使用菜单控件操作。 ♦每秒可拍摄24张图像 在相机的分辨率(1600x1200像素)下每秒24张图像，确保拍摄到要求很高的样品细节图像。相机的自动对焦功能的好处在于只要 通过双击鼠标您就可即时获得多焦点样品的任何部分。   ♦规格型号：   Leica DVM5000 HD 图片       Leica DVM5000 HD 用VZ700 C变焦镜头生成3D曲面模型。您可以用Leica DVM5000 HD选择全自动或半自动生成三维模型。     触摸屏控制台 可选的触摸屏控制台，使Leica DVM5000 HD功能，操作起来更方便。 用一个转盘控制对焦驱动和旋转镜头。     Leica DVM5000HD主机设计小巧优雅集成电机控制(聚焦，旋转头)、LED光源和21.5英寸全高清显示器。     小巧的Leica DVM5000 HD主机可以很容易地移动。         Leica DVM5000 HD 的软件功能 Leica DVM5000 HD功能强大。软件提供了许多功能，如分析和记录图像与生成3D曲面模型。     Leica DVM5000 HD为样品提供多个视图。每个单一的视图有其自身的放大倍率和校准数据。     从各个方向观察   当涉及到研究样品表面的微小结构时，传统的显微镜的倾斜或垂直有所限制。Leica数码显微镜使用灵活的倾斜，旋转x/ Y阶段结合即可观看到以前无法观察到的样品区域。，如对电子元件焊点的可靠性检测和分析。 X/Y平台可以方便的定位样品。